TAFCO Metawireless acude a la primera edición del Congreso Nacional de I+D en Defensa y Seguridad DESEi+d 2013, celebrado los días 6 y 7 de Noviembre en la Universidad Politécnica de Madrid, presentando la ponencia “Análisis de la Densidad Espectral RCS Doppler Aplicada a Entornos Militares”, en donde se remarca la importancia de este concepto.
La Sección Recta Radar, o en inglés Radar Cross Section (RCS) de un blanco u objetivo determina lo detectable que dicho objeto es frente a un sistema radar. Debido a que la mayoría de los objetivos están en movimiento, la señal EM sufre un desplazamiento de la frecuencia de operación que puede ser también interpretado por el sistema radar, con lo que además de detectar la posición del blanco es posible detectar su velocidad y dirección. Si el objeto dispone de partes móviles, tales como la hélice de un avión o el rotor de un helicóptero, la señal EM sufre un desplazamiento frecuencial añadido alrededor de la frecuencia central, lo que suele denominarse densidad espectral RCS Doppler o efecto Micro-Doppler. El análisis previo de este tipo de señales es fundamental en el desarrollo de mejores sistemas de detección.
http://catedraisdefe.etsit.upm.es/2013/05/20/primer-congreso-nacional-de-id-en-defensa-y-seguridad/